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FG München Urteil v. - 3 K 2221/00

Gesetze: KN Pos. 9030 UPos. 8183

Tarifierung von Leiterplattentestsystemen

Vibrationsregel- und Analysesystemen

Zoll

Leitsatz

Halbleiter-Fertigungsprüfgeräte, wie sie in der Unterposition 9030 8183 der Kombinierten Nomenklatur aufgeführt sind, prüfen die Funktionsweise integrierter Schaltungen während deren Fertigung. Da die streitgegenständlichen Leiterplattentestsysteme, Vibrationsregel- und Analysesysteme erst die fertige Baugruppe auf ihre Funktion prüften, waren sie nicht in diese Unterposition einzureihen.

Fundstelle(n):
MAAAB-50872

Preis:
€5,00
Nutzungsdauer:
30 Tage
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FG München, Urteil v. 19.03.2003 - 3 K 2221/00

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